基于DOB工艺的卫星导航抗干扰专用裸芯片测试板设计
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TN405

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Test Board Design of Satellite Navigation Anti-interference Bare Die Based on DOB Process
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    针对卫星导航抗干扰专用芯片,为了在裸芯片封装前能够更快速地进行芯片功能测试,采用 DOB 工艺,将芯片裸片分别装联到常规矩形排列的 PCB 焊盘和优化后交错排列的 PCB 焊盘上,通过破坏性拉力实验对比发现,键合强度存在较大差异,经过优化的 PCB 焊盘设计更能满足 DOB 工艺需求,此外通过对比焊盘优化后承载裸芯片的 PCB 和承载封装后芯片的 PCB 电性能参数,验证了基于 DOB 工艺裸芯片测试的可行性,提高芯片测试效率,为芯片优化和上市节约时间,降低成本。

    Abstract:

    In order to test the function of the satellite navigation anti-interference special die, this paper describes the design of test board based on DOB process. The pads on bare die are connected to two different kinds of PCB pads, which one are kept in line and the other are kept staggered. There is an obvious difference about the bonding strength between them. Otherwise, there is no difference about the electrical characteristics between ASIC with package and die without package, so that the PCB design based on DOB process is effective in saving time and costs.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

毕文婷,赵志平,舒钰.基于DOB工艺的卫星导航抗干扰专用裸芯片测试板设计[J].现代导航,2017,8(1):38-41

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